采用纹影方法又称施利伦(Schlieren)方法,是一种经典的光学显示技术,用于显示透明物质中因种种原因而引起的折射率不均匀。透明物质中折射率的变化,引起透过光线的不均匀偏折,因而导致了最终成像平面上照度的变化(把具有高时间分辨本领的高速相机与纹影仪结合起来,便成为高速纹影仪)。
a. 有效通光口径:Φ800mm、Φ600mm、Φ400mm、Φ240mm;
b. 像鉴别率:≥40线对/mm;
c. 成像性能:系统成像清晰,混色均匀,至少能感知5%的光强变化对应流场扰动;
d. 精度0.01mm;
e. 系统灵敏度可调。(以上参数主要对应Φ800mm口径纹影仪、对应型号参数根据需方要求);
用于显示流场、冲击波阵面及在透明介质中的传播、观察高压力下自由表面的微物质喷射、界面上的波系状况、界面不稳定性、高电压下桥丝的熔化过程和放电弱冲击波以及航天航空工程领域。
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